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形位公差檢測
零件結構的幾何形狀和相對位置是由形狀公差和位置公差來保證。對某些精度要求較高的零件，不僅需要保證其尺寸公差，而且還要保證其形位公差。
形位公差可為分為形狀公差和位置公差。
形狀公差包括直線度、平面度、圓度、圓柱度、線輪廓度、面輪廓度。
位置公差包括
定向公差（平行度、垂直度、傾斜度）
定位公差（同軸度、對稱度、位置度）
跳動公差（圓跳動、全跳動）
微觀尺寸檢測
采用布魯克的3D白光干涉儀、東京精密的2D探針輪廓儀、掃描電子顯微鏡等國際超精密設備，能為企業提供微米、納米級別的微觀尺寸量測、3D形貌掃描分析、非常規尺寸（如微小部件的R角半徑、樣品表面異常分析等）以及表面粗糙檢測等服務，幫助企業解決一系列產品開發、生產過程中出現的各種異常狀況，協助企業管控生產質量。

檢測量測實驗室服務項目：
1.模具驗證及分析：
新產品模具尺寸驗證
模具承認
件檢測
夾治具評估
2.制程驗證及分析：
統計制程能量分析
制程相關問題分析及解決
3.量測技術支持：
離線測量程序開發
量測系統能力評估
測量方案提供等

表面粗糙度參數含義
Ra評定輪廓算術平均偏差：在一個取樣長度內縱坐標值的的算術平均值。
Rz輪廓大高度：在一個取樣長度內，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點高度’。）
Rt輪廓總高度：在評定長度內大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評定長度≥取樣長度，故Rt≥Rz）
Sa評定表面算術平均偏差:在取樣面積內縱坐標的的算術平均值。（3D光學干涉法測量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評定輪廓的均方根差：在一個取樣長度內縱坐標的均方根值。
測量方法：探針接觸式測量法、光學干涉非接觸式測量法
檢測設備：2D輪廓掃描儀、3D光學干涉儀

微觀尺寸是一般是指用三坐標測量機及影像測量機等高精度測量儀器也無法量測尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而隨著現代制造工藝和產品設計水平的不斷提高，多維曲面的頻繁使用，使得逆向測繪變得十分困難。
我們的優勢：
的設備：清一色國外進口的高精度尺寸檢測設備；
豐富的經驗和大地測試容量
快速的測試周期：一般3工作日出具報告；
http://hongshiyu.com