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成都透射電鏡檢測
  • 成都透射電鏡檢測

產品描述

四川納卡檢測服務有限公司授權成都國威冠準檢測技術有限公司在網絡推廣平臺上為其進行檢驗檢測業務推廣。成都國威冠準檢測技術有限公司所發信息中的檢驗檢測由四川納卡檢測服務有限公司檢驗檢測,報告由四川納卡檢測服務有限公司出具。
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構,就必須選擇波長更短的光源,以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長要比可見光和紫外光短得多,并且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比,也就是說電壓越高波長越短。

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